အရည်အသွေးနှင့် သန့်ရှင်းရေး
Chipnet များသည် အီလက်ထရွန်းနစ် ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်အားလုံးတွင် အစိတ်အပိုင်းအတုများစွာ ရှိနေသည်ကို သိရှိကြပြီး၊ ၎င်းသည် သုံးစွဲသူများအတွက် ဆိုးရွားသော ပြဿနာများနှင့် ဆိုးရွားသော အကျိုးဆက်များကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ ကုန်ပစ္စည်းတစ်ခုစီ၏အရည်အသွေးကို မတင်ပို့မီ ဘေးကင်းပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော၊ အသစ်နှင့် မူရင်းဖြစ်ရန် ကျွန်ုပ်တို့ အလေးအနက်တောင်းဆိုပါသည်။
Chipnets ဖြင့် စမ်းသပ်မှုအပိုင်း
HD Visual စစ်ဆေးခြင်း။
ပိုးထည်စခရင်၊ ကုဒ်နံပါတ်၊ High Definition ပါဝင်သော High Definition ပုံပန်းသဏ္ဍာန် စမ်းသပ်ခြင်းတွင် ဓာတ်တိုးမှု သို့မဟုတ် အတုအပ အစိတ်အပိုင်းများကို သိရှိနိုင်သည့် ဂဟေဘောလုံးများကို စစ်ဆေးခြင်း
နောက်ဆုံးလုပ်ဆောင်ချက် စမ်းသပ်ခြင်း။
functional test တစ်ခုတွင် DUT မှ output signal များ၏ voltage level ကို functional comparators မှ VOL နှင့် VOH ရည်ညွှန်းအဆင့်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါသည်။ အထွက်ဗို့အားနမူနာအတွက် စမ်းသပ်စက်ဝန်းအတွင်း အမှတ်အတိအကျကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် အထွက်ပေါက်တစ်ခုစီအတွက် ချိန်ကိုက်တန်ဖိုးကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။
အဖွင့်/အတိုချုံး စမ်းသပ်မှု
အဖွင့်/အတိုချုံး စမ်းသပ်မှု (ဆက်လက်လုပ်ဆောင်မှု သို့မဟုတ် အဆက်အသွယ်စမ်းသပ်မှုဟုလည်း ခေါ်သည်) သည် စက်ပစ္စည်းစမ်းသပ်မှုတစ်ခုအတွင်း၊ DUT ရှိ အချက်ပြတံများအားလုံးသို့ လျှပ်စစ်အဆက်အသွယ်ပြုလုပ်ပြီး မည်သည့်အချက်ပြပင်နံပါတ်မှ အခြားအချက်ပြပင်နံပါတ် သို့မဟုတ် ပါဝါ/မြေပြင်သို့ အတိုချုံ့သွားကြောင်း အတည်ပြုသည်။
Programming Function စမ်းသပ်ခြင်း။
ဖတ်ခြင်း၊ ဖျက်ခြင်းနှင့် ပရိုဂရမ်လုပ်ဆောင်ချက်အပြင် ဒစ်ဂျစ်တယ်မှတ်ဉာဏ်၊ Microcontrollers၊ MCU စသည်ဖြင့် အပါအဝင် ချစ်ပ်များကို အလွတ်စစ်ဆေးရန်။
X-RAY နှင့် ROHS စမ်းသပ်မှု
X-RAY သည် wafer နှင့် wire bond နှင့် die bond သည် ကောင်းမွန်သည်ဖြစ်စေ ၊ ROHS စစ်ဆေးမှုသည် photovoltaic ကိရိယာဖြင့် ထုတ်ကုန် pin နှင့် ဂဟေအလွှာ၏ ခဲပါဝင်မှုကို ပတ်ဝန်းကျင်ကာကွယ်မှုမှတစ်ဆင့်ဖြစ်သည်။
ဓာတုဗေဒ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။
အစိတ်အပိုင်းသည် အတုလား သို့မဟုတ် ပြန်လည်ပြင်ဆင်ထားခြင်းရှိမရှိ ဓာတုဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုဖြင့် စစ်ဆေးပါ။